XRF - Setting Up Sample
Kod produktu
XRF-AS1
Postać produktu
Solid
Matryca
Monitor Glass
Kategorie produktów
Dokumentacja
Karta charakterystyki
Znajdź kartę charakterystyki dla swojego kraju
Szukasz innej karty charakterystyki?
Twój koszyk jest obecnie pusty.
Kontynuuj zakupyZaloguj się, aby zobaczyć ceny i dokonać płatności
View cartKod produktu
XRF-AS1
Postać produktu
Solid
Matryca
Monitor Glass
Kategorie produktów
Zaloguj się lub utwórz konto, aby zobaczyć ceny i złożyć zamówienie.
OdrzućZnajdź kartę charakterystyki dla swojego kraju
Nazwa analitu
Stężenie
Aluminium oxide
15.8 %
Arsenic trioxide
0.05 %
Boron trioxide
3.22 %
Cadmium oxide
0.39 %
Calcium oxide
0.83 %
Cesium oxide
0.04 %
Chromium(III) oxide
0.15 %
Fluorine
0.17 %
Germanium dioxide
0.08 %
Indium(III) oxide
0.04 %
Iron (III) Oxide
1.16 %
Lead(II) oxide
0.5 %
Magnesium oxide
3.2 %
Manganese(II) oxide
20.3 %
Phosphorus pentoxide
0.58 %
Potassium oxide
2.16 %
Rubidium oxide
0.04 %
Silicon dioxide
38.9 %
Sodium oxide
0.13 %
Strontium oxide
0.71 %
Tellurium dioxide
0.04 %
Thorium dioxide
0.04 %
Titanium dioxide
3.9 %
Triuranium octoxide
0.01 %
Vanadium oxide
0.01 %
Zinc oxide
7.4 %
Zirconium dioxide
0.15 %
Temperatura przechowywania
Room Temperature
Temperatura podczas transportu
Room Temperature
Kraj pochodzenia
CZECH REPUBLIC
Kod taryfy
38220000
Postać produktu
Solid
Matryca
Monitor Glass
Zaloguj się lub utwórz konto, aby zobaczyć ceny i złożyć zamówienie.
OdrzućYour punchout session will expire in1 min59 sec.
Select "Continue session" to extend your session.